Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Inoue M., Yamada Y., Ibi A., Fukushima H., Fuger R., Namba M., Izumi
Ayai N., Hayashi K., Higashikawa K., Kiss T., Inoue M., Sato K., Kitaguchi H., Kumakura H., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Shimoyama J., Nakashima T., YAMADE S., Tatamidani K., Osabe G., Kagiyama T., Shizuya E.
Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Izumi T., Inoue M., Yamada Y., Ibi A., Fukushima H., Fuger R., Namba M.
Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Inoue M., Mukaida M., Miura M., Yoshizumi M., Yamada K., Mori N., Namba M., Miyanaga Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, measurement technique, ac losses, YBCO, Hall sensor, magnetic field distribution
Ключевые слова: HTS, Bi2223, fabrication, overpressure processing, tapes, Hall sensor, magnetic field distribution, experimental results
Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Inoue M., Iwakuma M., Yamada Y., Nakao K., Chikumoto N., Honda Y.
Ключевые слова: presentation, HTS, YBCO, coated conductors, ac losses, distribution, local distribution, measurement setup, measurement technique, current distribution, coated conductors multifilamentary, transport currents, critical caracteristics, current-voltage characteristics, experimental results
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, TFA-MOD process, substrate LaAlO3, fabrication, microstructure
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Mukaida M., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Yamada K., Mori N., Tada K., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, precursors, composition, critical caracteristics, critical current density, microstructure, fabrication
Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Mukaida M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Yamada K., Mori N., Miyanaga Y., Nanba M.
Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Yamada Y., Yoshizumi M., Motoyama K.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, Hall sensor, magnetic field distribution, current distribution, current density, experimental results
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Mitani A., Hisatsune Y.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, TFA-MOD process, substrate LaAlO3, grain alignment, fabrication
Kiss T., Nagaya S., Kashima N., Shiohara Y., Watanabe T., Inoue M., Yamada Y., Miyata S., Ibi A., Mori M., Enpuku K., Zulkifli Z.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, CVD process, microstructure, homogeneity, current density, dissipative properties, flux flow, experimental results, fabrication
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Mitani A.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, TFA-MOD process, substrate LaAlO3, microstructure, fabrication
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Tanaka T., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Tada K., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, microstructure, fabrication
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Tada K., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, composition, microstructure, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.